[发明专利]火花源原子发射光谱分析中谱线干扰的校正方法

摘要

本发明属于原子发射光谱的定量分析领域，特别涉及一种火花源原子发射光谱分析中谱线干扰的校正方法。该校正方法中，待测试样品中包括待测试元素X、干扰元素A_i和M_j；本方法通过对干扰元素A_i和M_j的干扰谱线和干扰规律的研究，扣除干扰元素的影响，对分析谱线进行自动校正。本发明用于解决光谱分析过程中因不同元素之间相互干扰导致的定量分析结果不准确的问题，适用于火花或类火花源原子发射光谱。采用本发明不必增加任何装置，不增加分析成本和时间；特别适用于快速且准确的分析任务。

主权项

一种火花源原子发射光谱分析中谱线干扰的校正方法，待测试样品中包括待测试元素X、一个至多个第一干扰元素A_i和一个至多个第二干扰元素M_j；其中，测试元素X在火花源的作用下产生的分析谱线信号强度为I_x；其特征在于，该校正方法包括以下步骤：a.准备25到30个测试元素X、第一干扰元素A_i和第二干扰元素M_j含量已知的系列标准物质或样品，该标准物质或样品与待测试样品基体相同；所述系列标准物质或样品的含量范围覆盖待测试样品中测试元素X及干扰元素A_i和M_j的含量；b.打开光谱仪，把步骤b中准备好的标样分别引入光谱仪进行检测，获取由各标样产生的不同元素灵敏线光谱信号，并对光谱信号进行扣除背景、剔除异常、积分放大处理；(i)处理后的第一干扰元素A_i的光谱信号为I_i，处理后的第二干扰元素M_j的光谱信号为I_j，建立各个干扰元素含量的校正量ΔC，处理后的测试元素X的光谱信号为I_x；ΔC＝f(I_i)+f(I_x)*f(I_j)；   (1)(ii)元素X干扰校正后含量，记为C，系列标样中元素X的标准含量记为C_x；C＝C_x+ΔC；   (2)(iii)处理后的测试元素X的光谱信号为I_x，为横坐标，以校正后的含量C为纵坐标，绘图获得测试元素X的校准曲线及公式；C＝g(I_x)；   (3)c.在与步骤b相同的测试条件下，将步骤a中同时含有待测元素X、第一干扰元素A_i和第二干扰元素M_j的待测样品引入光谱仪分析；将采集并处理后的测试元素信号I_x，第一、第二干扰元素信号I_i,I_j，利用公式(2)(3)，计算在有其他元素干扰存在的情况下，待测元素X的浓度C_con：C_con＝g(I_x)‑(f(I_i)+f(I_x)*f(I_j))；   (4)。