[发明专利]端羟基有机硅分子的羟值测定方法有效
| 申请号： | 201410652402.X | 申请日： | 2014-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN104391073A | 公开（公告）日： | 2015-03-04 |
| 发明（设计）人： | 许祥;郑安呐;周晓东;许治昕;陈培 | 申请（专利权）人： | 华东理工大学 |
| 主分类号： | G01N31/10 | 分类号： | G01N31/10 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨元焱 |
| 地址： | 200237 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种端羟基有机硅分子的羟值测定方法，是在催化剂存在的条件下让端羟基有机硅分子发生缩合反应，通过吸水剂收集端羟基缩合产生的水，换算得到端羟基有机硅分子的羟值。本发明的方法所用到的仪器、原料均为实验室常用仪器、原料，可以很方便的检测出样品中羟基含量；由于采用缩聚的方法检测，得到的羟基含量更接近于有效羟基含量。 | ||
| 搜索关键词： | 羟基 有机硅 分子 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种端羟基有机硅分子的羟值测定方法，其特征在于：在催化剂存在的条件下让端羟基有机硅分子发生缩合反应，通过吸水剂收集端羟基缩合产生的水，换算得到端羟基有机硅分子的羟值。
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