[发明专利]一种金属材料中疏松/孔隙的荧光金相测量方法在审

专利信息
申请号: 201410707253.2 申请日: 2014-11-28
公开(公告)号: CN105699341A 公开(公告)日: 2016-06-22
发明(设计)人: 盖秀颖;刘金柱 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 许宗富;周秀梅
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种金属材料中疏松/孔隙的荧光金相测量方法,属于材料中疏松/孔隙的测量技术领域。本发明首先采用真空浸渗将含有荧光效应的物质浸入材料中的疏松和孔隙内,并固定在其内,因硬质相或氧化物脱落产生的孔洞,没有荧光效应,这样可以有效地区分材料中原始疏松和孔隙与制样过程中再产生的孔洞。从而更有效地将原始疏松和孔隙与制样过程中的孔洞和制样污点区分开,提高光学系统对缺陷的识别能力。同时用金相分析软件对采集的数字信号进行二次处理,优化用显微镜测量疏松和孔隙时选用的放大倍数、视场数,以提高分析速度和精确度。本发明方法提高了测量结果的归一性和再现性,提高了测试结果的精度。
搜索关键词: 一种 金属材料 疏松 孔隙 荧光 金相 测量方法
【主权项】:
一种金属材料中疏松/孔隙的荧光金相测量方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:(1)荧光浸渗剂的填充:将待测样品放入样品盒内,在真空条件下将含有荧光剂的荧光浸渗剂注入样品盒内,保压3‑8小时后,待测样品中荧光浸渗剂凝固;(2)金相试样的制备:将荧光浸渗剂凝固的待测样品表面进行打磨,至样品表面粗糙度Ra≤7μm,即制得金相试样;(3)疏松/孔隙的测量:采用具有荧光功能的金相显微镜对金相试样进行观察,并结合金相分析软件测量计算样品中疏松/孔隙的面积百分含量;其中:测量视场数量不少于20。
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