[发明专利]一种提高外延晶体质量的外延生长方法有效
申请号: | 201410720665.X | 申请日: | 2014-12-01 |
公开(公告)号: | CN104485399A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 商毅博 | 申请(专利权)人: | 西安神光皓瑞光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;C30B25/16;C30B29/40;H01L33/32 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 胡乐 |
地址: | 710100 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明提供一种提高外延晶体质量的外延生长方法,能有效提升LED外延的晶体质量。该外延生长方法包括以下步骤:1)以锥形PSS作为生长基底,低温生长第一缓冲层;2)高温生长第一U-GaN层,生长厚度应保证第一U-GaN层未完全覆盖PSS图形,即有PSS尖部高出第一U-GaN层表面;3)在NH3环境中进行高温退火,然后降至低温,再生长第二缓冲层;4)高温生长第二U-GaN层,生长厚度应保证第二U-GaN层完全覆盖PSS图形;5)依次生长掺杂SiH4的n-GaN层、多量子阱有源层、掺杂p型AlGaN阻挡层、掺杂p型GaN层,最后在氮气氛围下退火。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 外延 晶体 质量 生长 方法 | ||
【主权项】:
一种提高外延晶体质量的外延生长方法,包括以下步骤:1)以锥形PSS作为生长基底,低温生长第一缓冲层;2)高温生长第一U‑GaN层,生长厚度应保证第一U‑GaN层未完全覆盖PSS图形,即有PSS尖部高出第一U‑GaN层表面;3)在NH3环境中进行高温退火,然后降至低温,再生长第二缓冲层;4)高温生长第二U‑GaN层,生长厚度应保证第二U‑GaN层完全覆盖PSS图形;5)依次生长掺杂SiH4的n‑GaN层、多量子阱有源层、掺杂p型AlGaN阻挡层、掺杂p型GaN层,最后在氮气氛围下退火。
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