[发明专利]测试治具

摘要

一种测试治具，包含有一基板与复数导电弹片，该基板具有一凹槽及复数个线路，该凹槽自该基板的顶面凹陷形成，该些线路设于基板的顶面。该些导电弹片设置于该基板且分别电性连接该些线路，各该导电弹片具有一接触部位于该凹槽的正投影范围内，各该接触部供接触一待测电子对象的一接点。以此利用导电弹片传输测试讯号，可有效地减少传输高频测试讯号时产生的衰减。

主权项

1.一种测试治具，用以接触一待测电子对象，该待测电子对象具有复数个接点，该测试治具包括：一基板，具有一顶面，该基板另具有一凹槽自该顶面凹陷形成，以及复数个线路设于该顶面；其中，该基板具有一贯孔贯穿该凹槽的槽面与该基板底面；以及复数导电弹片，设置于该基板上且分别电性连接于该些线路，各该导电弹片具有一接触部位于该凹槽的正投影范围内，且该接触部供接触该待测电子对象的一该接点；一缓冲垫，该缓冲垫设置于该凹槽中且位于该些导电弹片下方；一弹性件，位于该缓冲垫下方，该弹性件具有一顶抵端接触该缓冲垫，该顶抵端对应该些导电弹片的接触部；一基座，设置于该基板的下方；该弹性件设置于该基座，且该弹性件的该顶抵端突伸至该贯孔中；一定位座，设置于该基板顶面上，该定位座具有一穿孔连通该定位座的顶面与底面，该些导电弹片的接触部位于该穿孔的正投影范围内且待测电子对象位于该穿孔中。