[发明专利]时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法及装置在审
| 申请号： | 201410737350.6 | 申请日： | 2014-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN104535959A | 公开（公告）日： | 2015-04-22 |
| 发明（设计）人： | 黄翔东;冼弘宇;闫子阳;景森学;朱展宏 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01S3/00 | 分类号： | G01S3/00;G01S7/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 温国林 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法及装置，方法包括：对L路信号样本做DFT，用Candan内插估计器对各路DFT谱峰值做频率、相位校正，得到L对归一化频率及相位估计值；采用闭式CRT算法，由L对归一化频率获取信号频率值；求出传感器阵元1与其它阵元的接收信号相位差估计值，进一步构成相位余数，最后算出空间信号入射角。装置包括：空间远场窄带信号以某一入射角θ到达各传感器阵元，得到阵列接收信号；各传感器阵元上的A/D采样器对信号并行采样，将得到的样本序列并行输入到DSP器件，经过DSP的内部算法处理，得到入射信号的频率估计和DOA估计，最后借助输出驱动及其显示电路显示估计结果。 | ||
| 搜索关键词： | 时空 采样 信号 频率 doa 联合 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种时空欠采样下信号频率及DOA联合测量方法，其特征在于，所述测量方法包括以下步骤：布置含L个传感器阵元的线性非均匀阵列，以传感器阵元1为参考阵元，定义传感器阵元i与传感器阵元1的间距为di,1；在同一时间间隔T0内，L个传感器阵元分别以采样速率F1～FL对空间入射信号做并行欠采样，其中，F1～FL具有正的公约数Mf；对L路信号样本做DFT，用Candan内插估计器对各路DFT谱峰值做频率、相位校正，得到L对归一化频率及相位估计值；采用闭式CRT算法，通过L对归一化频率获取信号频率值求出传感器阵元1与其它阵元的接收信号相位差估计值，进一步构成相位余数，最后算出空间信号入射角。
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