[发明专利]基于低电压数字CMOS器件的列并行比较装置有效

专利信息
申请号: 201410742541.1 申请日: 2014-12-05
公开(公告)号: CN104734649A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 芯视达系统公司
主分类号: H03F3/45 分类号: H03F3/45
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 开曼群岛可里克特广场*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 一种半导体图像处理电路领域的基于低电压数字CMOS器件的列并行比较装置,包括:斜坡发生单元、增益相关模式控制单元以及若干个列比较单元,增益相关模式控制单元输出开关切换信号至各个列比较单元,增益相关模式控制单元另外输出时钟频率调整信息和/或电压偏置强度信息至斜坡发生单元,斜坡发生单元向列比较单元输出斜坡信号。本发明采用低压数字MOS管代替高压模拟MOS管为比较器的基本单元,用增益相关的电荷共享方式来映像高电压范围到低电压范围,从而实现非常小的噪声性能的折衷的方法,增益相关的电路模式控制方法,提高电路性能的同时实现显著减小版图面积的效果。
搜索关键词: 基于 电压 数字 cmos 器件 并行 比较 装置
【主权项】:
一种基于低电压数字CMOS器件的列并行比较装置,其特征在于,包括:一个斜坡发生单元、一个增益相关模式控制单元以及若干个列比较单元,其中:增益相关模式控制单元输出开关切换信号至各个列比较单元,增益相关模式控制单元另外输出时钟频率调整信息和/或电压偏置强度信息至斜坡发生单元,斜坡发生单元向列比较单元输出斜坡信号。
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