[发明专利]多轴型三维测量设备在审
| 申请号： | 201410751760.6 | 申请日： | 2014-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN104697466A | 公开（公告）日： | 2015-06-10 |
| 发明（设计）人： | 阿部信策 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多轴型三维测量设备，包括：多轴臂机构；探测器，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于测量工件；以及投影仪，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于根据所述工件和所述探测器之间的距离来缩放所投影的投影图像的范围。所述投影仪被配置为与所述工件和所述探测器之间的距离的差异无关地投影所述工件的全尺寸投影图形以使得所述全尺寸投影图形与所述工件一致，并且投影用于识别利用所述探测器的测量预定位置的显示信息。 | ||
| 搜索关键词： | 多轴型 三维 测量 设备 | ||
【主权项】：
一种多轴型三维测量设备，包括：多轴臂机构；探测器，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于测量工件；以及投影仪，其形成在所述多轴臂机构的末端，并且用于根据所述工件和所述探测器之间的距离来对所投影的投影图像的范围进行缩放，其中，所述投影仪被配置为与所述工件和所述探测器之间的距离的差异无关地投影所述工件的全尺寸投影图形以使所述全尺寸投影图形与所述工件一致，并且投影用于识别所述探测器的测量预定位置的显示信息。
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