[发明专利]基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法

摘要

基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，涉及一种小时延缺陷的测试路径选择方法。它为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间长、速度慢的问题。本发明所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，首先对测试电路读入分析电路节点连接信息时的算法及存储数据的格式；然后对所要测试电路在读取连接信息的基础上转换为有向无环路图的形式；最后使用蚁群优化算法求解电路网络中的最长通路作为小时延缺陷的关键路径。在保证较高的正确率的前提下，加快了运行速度，以提高路径选择方法在实际应用的实用性。适用于小时延缺陷的测试路径的选择。

主权项

基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法，其特征在于，它包括以下步骤：步骤一：读取测试电路的节点在连接信息时的算法、数据存储方法和数据存储格式；步骤二：将测试电路转换成有向无环拓扑图的形式，并将该有向无环拓扑图存储为邻接矩阵，然后将该邻接矩阵作为目标电路网络；步骤三：利用蚁群优化算法将所有蚂蚁均放置在目标电路网络的输入节点处；步骤四：每只蚂蚁独立的根据概率公式选择下一步要到达的节点；步骤五：分别判断每只蚂蚁在步骤四获得的下一步要到达的节点是否为指定输出节点，是则执行步骤六，否则返回步骤四；步骤六：将完成路径选择的蚂蚁走过的路径作为待选择的路径；步骤七：比较所有待选择的路径的节点数量，将节点数目最多的路径作为关键路径。