[发明专利]偏光膜的缺陷检测装置以及方法在审
| 申请号： | 201410766749.7 | 申请日： | 2014-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN104713886A | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 许宰宁;朴宰贤 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/896 | 分类号： | G01N21/896 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 韩国全*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供偏光膜的缺陷检测装置以及方法。偏光膜的缺陷检测装置的特征在于具有：接收部，其接收由自动光学检查机检查出的针对偏光膜的检查结果；以及检测部，其分析所述检查结果，检测偏光膜的缺陷，所述检测部根据缺陷类型(Defect Type)、ΔX(Dx)、ΔY(Dy)、面积(Area)、密度(Density)、尺寸(Size)、峰值(Peak)、厚度(Thickness)中的两个以上的参数，判别所述偏光膜的缺陷形态是接合异物、接合气泡、异物、亮点、刮痕、集群性亮点、一条线中的至少任意一种。 | ||
| 搜索关键词： | 偏光 缺陷 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，该偏光膜的缺陷检测装置具有：接收部，其接收由自动光学检查机检查出的针对偏光膜的检查结果；以及检测部，其分析所述检查结果，检测偏光膜的缺陷，所述检测部根据缺陷类型、ΔX、ΔY、面积、密度、尺寸、峰值、厚度中的两个以上的参数，判别所述偏光膜的缺陷形态是接合异物、接合气泡、异物、亮点、刮痕、集群性亮点、一条线中的至少任意一种。
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