[发明专利]一种测试电路、阵列基板及显示装置在审
| 申请号： | 201410767844.9 | 申请日： | 2014-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN104485058A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 苏俊雄;吴昊 | 申请（专利权）人： | 厦门天马微电子有限公司;天马微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 361000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试电路，用于测试一包括多条数据线的像素阵列，包括第一测试总线、第二测试总线和至少一个第一晶体管；第一测试总线和第二测试总线分别用于向多条数据线中的不同数据线提供不同的测试信号；每个第一晶体管的栅极电连接一个控制端，第一晶体管的第一极电连接第一测试总线，第一晶体管的第二极电连接第二测试总线；第一晶体管在测试阶段处于关态。本发明还提供一种阵列基板和显示装置，在像素阵列的至少一侧设置本发明提供的测试电路。采用本发明的提供的测试电路和阵列基板可以避免掉电导致的液晶极化，解决画面残像和画面抖动的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 阵列 显示装置 | ||
【主权项】：
一种测试电路，用于测试一包括多条数据线的像素阵列，所述测试电路包括第一测试总线、第二测试总线和至少一个第一晶体管；所述第一测试总线和所述第二测试总线分别用于向所述多条数据线中的不同数据线提供不同的测试信号；每个所述第一晶体管的栅极电连接一个控制端，所述第一晶体管的第一极电连接所述第一测试总线，所述第一晶体管的第二极电连接所述第二测试总线；所述第一晶体管在测试阶段处于关态。
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