[发明专利]固体清洗剂的分析方法在审

专利信息
申请号: 201410778523.9 申请日: 2014-12-16
公开(公告)号: CN104483304A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 贾梦虹;张娟娟;吴杰;裴丽娟 申请(专利权)人: 上海微谱化工技术服务有限公司
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200438 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及本发明涉及一种硅酸盐的分析方法,特别涉及固体清洗剂中硅酸盐的分析方法。包括以下步骤:S1、提供固体清洗剂,所述固体清洗剂含有硅酸盐;S2、使用XRD分析所述的固体清洗剂,得到固体清洗剂中的预估硅元素含量;S3、将固体清洗剂溶于水,稀释,得到待测溶液;所述稀释倍数是通过所述的预估硅元素含量,使得待测溶液中硅元素的含量控制在1-10ppm;S4、使用ICP分析待测溶液,得到精确硅元素含量。本发明方法能准确定性固体复配清洗剂中含氧硅酸盐;排除了FTIR无法准确定性混合物的困难;本发明方法能准确定量固体清洗剂中含氧硅酸盐,解决了XRF无法准确定量含氧硅酸盐含量的困难;本发明方法操作步骤简单,节约前处理成本。
搜索关键词: 固体 洗剂 分析 方法
【主权项】:
固体清洗剂的分析方法,包括以下步骤:S1、提供固体清洗剂,所述固体清洗剂含有硅酸盐;S2、使用XRD分析所述的固体清洗剂,得到固体清洗剂中的预估硅元素含量;S3、将固体清洗剂溶于水,稀释,得到待测溶液;所述稀释倍数是通过所述的预估硅元素含量,使得待测溶液中硅元素的含量控制在1‑10ppm;S4、使用ICP分析待测溶液,得到精确硅元素含量。
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