[发明专利]一种嵌入式系统的调试方法及装置在审
| 申请号： | 201410784867.0 | 申请日： | 2014-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN105760289A | 公开（公告）日： | 2016-07-13 |
| 发明（设计）人： | 刘立伟 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人： | 梁军 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种嵌入式系统的调试方法及装置，涉及嵌入式技术领域，用以解决现有技术中嵌入式系统调试效率低下的问题。所述方法包括：根据用户输入的调试指令，向上位机发送地址解析请求，所述地址解析请求中携带调试对象的名称；接收来自所述上位机的地址解析结果，所述地址解析结果包括所述调试对象在下位机中的存储地址；根据所述地址解析结果，调用所述调试对象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 嵌入式 系统 调试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种嵌入式系统的调试方法，其特征在于，包括：根据用户输入的调试指令，向上位机发送地址解析请求，所述地址解析请求中携带调试对象的名称；接收来自所述上位机的地址解析结果，所述地址解析结果包括所述调试对象在下位机中的存储地址；根据所述地址解析结果，调用所述调试对象。
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