[发明专利]一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统及检测方法在审
| 申请号： | 201410800824.7 | 申请日： | 2014-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN104458765A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 李俊 | 申请（专利权）人： | 四川理工学院 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06T7/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 韩雪;吴彦峰 |
| 地址： | 643000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统及检测方法。所述系统包括热源、红外热像传感器、数字图像采卡、计算机；热源用于加热磁瓦；红外热像传感器用于对采集加热后的磁瓦的红外热像图像；计算机用于对磁瓦的红外热像图像进行处理，并对磁瓦缺陷进行分析。本发明解决了人工检测存在的效率低、劳动强度大、易漏检等问题，易于实现磁瓦缺陷检测自动化，且易于在线应用；适当的外部加热，利用磁瓦缺陷对热流传导阻力和比表面积的不同从而最终导致磁瓦表面温度分布的异常与否进行缺陷检测与识别，既能检测磁瓦的表面缺陷又能检测磁瓦的内部缺陷；采用了基本不受光照条件限制的红外热像技术，抗环境干扰能力更强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 红外 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统，其特征在于，包括热源、红外热像传感器、数字图像采卡、计算机；热源用于加热磁瓦；红外热像传感器用于对采集加热后的磁瓦的红外热像图像；计算机用于对磁瓦的红外热像图像进行处理，并对磁瓦缺陷进行分析。
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