[发明专利]一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法

摘要

本发明提供一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法，采用弯曲参考法或多模参考法测试光纤衰减系数和截止波长。弯曲参考法包括以下步骤：测量待测长光纤出纤光功率；截取短光纤；测量短光纤在小圈和大圈状态下的出纤光功率；放开所述小圈，测量短光纤仅在大圈状态下的出纤光功率；计算截止波长和衰减系数。多模参考法包括以下步骤：测量待测长光纤出纤光功率；截取短光纤；测量短光纤的出纤光功率；调用系统中已有的多模光纤输出端处的出纤光功率；拟合短光纤在大圈状态下的传输功率谱，计算截止波长和衰减系数。本发明通过弯曲参考法或多模参考法可实现同步测量光纤衰减系数和截止波长，从而减少测试步骤，缩短测试时间，有效提高测试效率。

主权项

一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法，采用弯曲参考法或多模参考法测试光纤衰减系数和截止波长，其特征在于：所述弯曲参考法包括以下步骤：A1、将一段长为L的待测长光纤装入光功率测试设备中，测量待测长光纤输出端处的出纤光功率P1(λ)；A2、在离所述待测长光纤输入端的2m处截断待测长光纤，得到一段长为2m的短光纤；A3、将所述短光纤折弯装入光功率测试设备中，折弯后的短光纤上设有并排分布的一小圈和一大圈，保持步骤A1中测量待测长光纤时的注入条件，测量短光纤在小圈和大圈状态下、短光纤输出端处的出纤光功率P2(λ)；A4、放开所述小圈，保持步骤A3中测量短光纤时的注入条件，测量短光纤仅在大圈状态下、短光纤输出端处的出纤光功率P3(λ)；A5、拟合短光纤在小圈和大圈状态下的出纤光功率P2(λ)与短光纤仅在大圈状态下的出纤光功率P3(λ)之间的对数比R(λ)：$R\left(\mathrm{\λ}\right)=10\log \left(\frac{P3\left(\mathrm{\λ}\right)}{P2\left(\mathrm{\λ}\right)}\right)$待测长光纤的截止波长λ_c为：在R(λ)‑λ曲线上，当R(λ)＝0.1dB处的最大波长；待测长光纤的衰减系数α(λ)为：$\mathrm{\α}\left(\mathrm{\λ}\right)=10\×\frac{\log (P2\left(\mathrm{\λ}\right)/P1\left(\mathrm{\λ}\right))}{L};$所述多模参考法包括以下步骤：B1、将一段长为L的待测长光纤装入光功率测试设备中，测量待测长光纤输出端处的出纤光功率P1(λ)；B2、在离所述待测长光纤输入端的2m处截断待测长光纤，得到一段长为2m的短光纤；B3、将所述短光纤折弯装入光功率测试设备中，折弯后的短光纤上设有一大圈，保持步骤B1中测量待测长光纤时的注入条件，测量短光纤输出端处的出纤光功率P4(λ)；B4、调用系统中已有的多模光纤的参考光功率Pm(λ)；B5、拟合短光纤在大圈状态下的传输功率谱Am(λ)：$\mathrm{Am}\left(\mathrm{\λ}\right)=10\log \left(\frac{P4\left(\mathrm{\λ}\right)}{\mathrm{Pm}\left(\mathrm{\λ}\right)}\right)$待测长光纤的截止波长λ_c为：将Am(λ)‑λ曲线的长波长部分拟合一条直线，将该直线向上平移0.1dB后得到一条参考直线，该参考直线与Am(λ)‑λ曲线相交处的最大波长；待测长光纤的衰减系数α(λ)为：$\mathrm{\α}\left(\mathrm{\λ}\right)=10\×\frac{\log (P4\left(\mathrm{\λ}\right)/P1\left(\mathrm{\λ}\right))}{L}.$