[实用新型]一种X荧光铜合金测试仪有效
| 申请号： | 201420072410.2 | 申请日： | 2014-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN203732474U | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 郭晓明;苏建平;周偃;时玲 | 申请（专利权）人： | 上海精谱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 吕伴 |
| 地址： | 201806 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种X荧光铜合金测试仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品测试平台，信号探测装置中设置有与信号处理装置连接的探测器，信号处理装置与计算机连接，激发光源装置与计算机控制连接，激发光源装置中设置有X射线发生器，探测器位于X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器，探测器为SUPER-SDD电制冷探测器。本实用新型的探测器采用SUPER-SDD电制冷探测器，计数效率提高500%，比SI-PIN探测器提高了5倍，使一般样品在100秒内，可以得到满意的结果，提高分析元素的灵敏度和检出限，可测试各类铜合金样品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 铜合金 测试仪 | ||
【主权项】：
一种X荧光铜合金测试仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品测试平台，所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的探测器，所述信号处理装置与所述计算机连接，所述激发光源装置与所述计算机控制连接，所述激发光源装置中设置有X射线发生器，所述探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，所述X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器，其特征在于，所述探测器为SUPER‑SDD电制冷探测器。
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