[实用新型]一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺有效
| 申请号： | 201420185000.9 | 申请日： | 2014-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN203839350U | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | 张洪超;沈一清;李帅锋;张磊;占伟 | 申请（专利权）人： | 浙江长兴汉能光伏有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 湖州金卫知识产权代理事务所(普通合伙) 33232 | 代理人： | 赵卫康 |
| 地址： | 313000 浙江省湖州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及薄膜太阳能电池检测技术领域，具体涉及一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，包括尺体和与尺体垂直设置的折边；所述尺体为透明或半透明状，所述尺体表面设有与非晶硅太阳能电池标准激光刻线位置相同的标记。本实用新型克服了现有检测技术的不足，提供一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，只需将标尺放置在TCO玻片上，将折边紧靠在TCO玻片的定位边上，通过对比标尺刻线与第一组激光刻线位置是否重合来检验产品是否达到要求，本实用新型结构简单、使用方便，检测效果直观、明了。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检验 非晶硅 太阳能电池 激光 位置 标尺 | ||
【主权项】：
一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：包括尺体（11）和与尺体垂直设置的折边（12）；所述尺体（11）为透明或半透明状，所述尺体（11）表面设有与非晶硅太阳能电池标准激光刻线位置相同的标记。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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