[实用新型]一种芯片测试系统有效
| 申请号： | 201420186734.9 | 申请日： | 2014-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN203773019U | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 王锐;夏群 | 申请（专利权）人： | 成都先进功率半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人： | 王芸;熊晓果 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试系统，包括用于对芯片进行测试的晶体管图示仪，与晶体管图示仪电连接的芯片测试座，芯片测试座包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于插接连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，第一拨码开关与芯片夹具电性连接，芯片夹具与第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。本实用新型的芯片测试系统使得芯片测试操作简单，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片测试系统，包括用于对芯片进行测试的Tektronix 370A型晶体管图示仪，其特征在于，还包括与所述Tektronix 370A型晶体管图示仪电连接的芯片测试座，该芯片测试座包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于插接连接Tektronix 370A型晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与Tektronix 370A型晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。
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