[实用新型]复合制导系统初始姿态现场校准系统有效
| 申请号： | 201420243230.6 | 申请日： | 2014-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN203857967U | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | 崔桂利;冯伟利;王春喜;赵天承;王锴磊;魏小林;郭雨蓉;姜云翔 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 李东斌 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及初始姿态角度差计量校准技术领域，具体公开了一种复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法。该系统中第一光路系统的准直分划板A经过第一光路系统照射在捷联惯组基准棱体后，反射至线阵CCD器件A上；第二光路系统中的准直分划板B1和准直分划板B2经过第二光路系统照射在捷联惯组基准棱体后，分别反射至线阵CCD器件B1线阵CCD器件B2上；第三光路系统的准直分划板C经过第三光路系统照射在星敏感器基准棱体后，反射至线阵CCD器件C上；第四光路系统的准直分划板D1以及准直分划板D2经过第四光路系统后，分别反射至线阵CCD器件D1和线阵CCD器件D2上。该系统中的光电测角本身测量精度高，四条自准直光路集于一体，结构简单，操作便捷。 | ||
| 搜索关键词： | 复合 制导 系统 初始 姿态 现场 校准 | ||
【主权项】：
一种复合制导系统初始姿态现场校准系统，其特征在于：该系统包括第一光路系统、第二光路系统、第三光路系统以及第四光路系统，其中，第一光路系统的准直分划板A(10)经过第一光路系统照射在捷联惯组基准棱体(33)后，反射至第一光路系统中的线阵CCD器件A(8)上；第二光路系统中的准直分划板B1(18)和准直分划板B2(19)经过第二光路系统照射在捷联惯组基准棱体(33)后，分别反射至第二光路系统中的线阵CCD器件B1(16)线阵CCD器件B2(17)上；第三光路系统的准直分划板C(9)经过第三光路系统照射在星敏感器基准棱体(32)后，反射至第三光路系统的线阵CCD器件C(7)上；第四光路系统的准直分划板D1(30)以及准直分划板D2(31)经过第四光路系统后，分别反射至第四光路系统中的线阵CCD器件D1(28)和线阵CCD器件D2(29)上。
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