[实用新型]一种测量同位素热源表面温度的测量装置

摘要

本实用新型涉及一种温度测量装置。为解决现有同位素热源表面温度测量方法测量结果不准确，无法获得完整的温度场分布情况等问题，本实用新型提供了一种同位素热源表面温度测量装置，包括红外测温台、计算机控制和数据采集系统以及计算机数据处理系统。同时提供了一种采用前述测量装置的温度测量方法，步骤如下：一、通过远程控制装置放置同位素热源；二、通过压头固定同位素热源；三、通过计算机控制和数据采集系统采集各参数；四、通过计算机数据处理系统进行数据处理。本实用新型的同位素热源表面温度测量装置能够获得完整的同位素热源表面温度场分布情况，测量结果准确客观，实现了远距离测量，满足了安全性要求。

主权项

一种同位素热源表面温度测量装置，其特征在于：包括红外测温台、计算机控制和数据采集系统以及计算机数据处理系统，具体如下： 一、红外测温台 红外测温台主要由框架、红外探头、顶轴和转台构成；红外探头通过探头导轨连接在框架的立柱上，通过探头电机的驱动能够使红外探头沿探头导轨在竖直方向上滑动；顶轴上端固定在框架的横梁上，通过顶轴电机的驱动能够使轴杆沿竖直方向移动，轴杆下端通过轴承与带有固定针的压头相连接；顶轴下方设有转台，通过转台电机的驱动能够使转台转动，转台中央设有隔热底座； 二、计算机控制和数据采集系统 计算机控制和数据采集系统通过与红外测温台的红外探头、探头电机、顶轴电机和转台电机的连接，控制红外测温台的运行，采集红外探头的温度参数、各电机的运行参数以及相对应的时间参数； 三、计算机数据处理系统。