[实用新型]新型IC测试座有效
| 申请号： | 201420375348.4 | 申请日： | 2014-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN203981718U | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 周秋香 | 申请（专利权）人： | 深圳市浦洛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 李悦;齐文剑 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 新型IC测试座，包括，底座，其上设置有转轴；上盖，其上固定有定位销；弹性元件，用于提供一个将上盖朝着远离底座的方向推动的弹性应力；压块，其上设置有一与转轴转动配合的枢孔，压块上位于枢孔的一侧形成一个用于将待测试的IC上表面向下顶压的压紧端，压块上位于枢孔的另一侧设置有一供定位销穿入的长孔；固定在底座下表面定位框；可拆卸的固定在定位框下表面的PCB板；夹持在PCB板和定位框之间的导电胶板，导电胶板下表面设置有与PCB板接触导通的下接触端、上表面设置有用于与待测试IC接触的上接触端。本实用新型的测试座能够确保IC、导电胶板、PCB板紧配合，无需较大的下压力，即可确保IC与PCB板导通。 | ||
| 搜索关键词： | 新型 ic 测试 | ||
【主权项】：
新型IC测试座，其特征在于，包括，底座，其上设置有转轴；设置在底座上方的上盖，其上固定有定位销，定位销与转轴平行；弹性元件，设置在底座和上盖之间并用于提供一个将上盖朝着远离底座的方向推动的弹性应力；压块，其上设置有一与转轴转动配合的枢孔，压块上位于枢孔的一侧形成一个用于将待测试的IC上表面向下顶压的压紧端，压块上位于枢孔的另一侧设置有一供定位销穿入的长孔；固定在底座下表面定位框；可拆卸的固定在定位框下表面的PCB板；夹持在PCB板和定位框之间的导电胶板，导电胶板下表面设置有与PCB板接触导通的下接触端、上表面设置有用于与待测试IC接触的上接触端。
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