[实用新型]一种基于腔体技术多芯片叠加封装装置有效
申请号: | 201420433174.2 | 申请日: | 2014-08-01 |
公开(公告)号: | CN204102862U | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
发明(设计)人: | 袁正红;蒋学东;毛忠宇 | 申请(专利权)人: | 深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州兴森快捷电路科技有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52;H01L23/488;H01L25/00;H01L21/60 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 张龙哺 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种基于腔体技术多芯片叠加封装装置,包括基板、第一芯片及多个第二芯片,基板上表面形成有上端敞口的腔体,第一芯片设置于所述腔体内并与基板电连接,多个第二芯片堆叠到基板的上表面上,各第二芯片设有焊盘,与基板邻接的第二芯片一端伸入所述第一芯片正上方区域。该结构节约了封装内部的空间,有效降低了封装内部芯片叠加之后的厚度,降低了封装装置的整体厚度,同时在同一种封装装置条件下最大可能增加叠加芯片数量,增加封装装置的集成度,同时优化了因第一芯片放置在最上层第二芯片上方带来的不稳定工艺制程,避免塑封料外部露出第一芯片及第一芯片上的导电构件,提高封装良率,降低封装成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 技术 芯片 叠加 封装 装置 | ||
【主权项】:
一种基于腔体技术多芯片叠加封装装置,其特征在于,包括:基板(1),其上表面形成有上端敞口的腔体(11);第一芯片(2),设置于所述腔体(11)内,其与所述基板(1)电连接;及多个第二芯片(3),堆叠到所述基板(1)的上表面上,各该第二芯片(3)设有焊盘,与基板(1)邻接的第二芯片(3)一端伸入所述第一芯片(2)正上方区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造