[实用新型]一种PMU测试装置有效
| 申请号： | 201420516264.8 | 申请日： | 2014-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN204116550U | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 方盼;苏绩 | 申请（专利权）人： | 深圳安博电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型属于芯片生产测试技术领域，提供了一种PMU测试装置。本实用新型通过采用包括USB转串口通信模块、主控芯片、模式选择模块及PMU测试模块的PMU测试装置，其结构简单、体积小且成本低；由于主控芯片的引脚数量大于100，所以可满足通过不同数量的引脚对芯片进行测试的要求，且不需要进行引脚切换，从而提高了测试效率并缩短测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pmu 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种PMU测试装置，其特征在于，所述PMU测试装置包括USB转串口通信模块、主控芯片、模式选择模块及PMU测试模块；所述USB转串口通信模块的USB接口与外部的电脑或上位机连接，所述USB转串口通信模块的数据发送端和数据接收端分别连接所述主控芯片的数据接收端和数据发送端，所述主控芯片的第一模式选择端和第二模式选择端分别连接所述模式选择模块的第一输出端和第二输出端，所述主控芯片的数模转换连接端与所述PMU测试模块中的数模转换单元连接，所述主控芯片的模数转换连接端与所述PMU测试模块中的模数转换单元连接，所述主控芯片的测试端与所述PMU测试模块中的电源测试芯片连接，所述电源测试芯片连接所述数模转换单元的电压输出端和所述模数转换单元的电流电压输入端，所述电源测试芯片通过外部的芯片连接装置与待测芯片连接；所述主控芯片的引脚数量大于100。
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