[实用新型]用于硅片切割的上下齐对焦显微镜有效
申请号: | 201420607840.X | 申请日: | 2014-10-20 |
公开(公告)号: | CN204116698U | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 王新印 | 申请(专利权)人: | 无锡世迈科技有限公司 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00;B28D7/00 |
代理公司: | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 张欢勇 |
地址: | 214028 江苏省无锡市无锡国家高新技术产业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于硅片切割的上下齐对焦显微镜,其特征在于:包括透明且设有对焦基准线的切割台(1)、第一显微镜(2)和第二显微镜(3),所述的第一显微镜(2)设在切割台(1)上方,所述第二显微镜(3)设在切割台(1)下方,所述第一显微镜(2)镜头和第二显微镜(3)镜头相对且与对焦基准线同轴线。 | ||
搜索关键词: | 用于 硅片 切割 上下 对焦 显微镜 | ||
【主权项】:
一种用于硅片切割的上下齐对焦显微镜,其特征在于:包括透明且设有对焦基准线的切割台(1)、第一显微镜(2)和第二显微镜(3),所述的第一显微镜(2)设在切割台(1)上方,所述第二显微镜(3)设在切割台(1)下方,所述第一显微镜(2)镜头和第二显微镜(3)镜头相对且与对焦基准线同轴线。
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