[实用新型]提高饱和容量的背照式图像传感器结构有效

专利信息
申请号: 201420709498.4 申请日: 2014-11-21
公开(公告)号: CN204179083U 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 郭同辉;旷章曲 申请(专利权)人: 北京思比科微电子技术股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种提高饱和容量的背照式图像传感器结构,包括置于半导体基体中的逻辑电路和像素阵列,像素阵列区域周围的半导体基体中设置有N型离子环,所述像素阵列区域与N型离子环之间设置有P型离子环。N型离子环将像素阵列区域的半导体基体与逻辑电路区域的半导体基体隔开,两区域的半导体基体可以设置成不同的电势;像素阵列与N型离子环之间的P型离子环,通过外接负电势,有效提高了像素中光电二极管的势阱电势摆幅,提高了像素的信号饱和容量。
搜索关键词: 提高 饱和 容量 背照式 图像传感器 结构
【主权项】:
一种提高饱和容量的背照式图像传感器结构,其特征在于,包括置于半导体基体中的逻辑电路和像素阵列,所述像素阵列区域周围的半导体基体中设置有N型离子环,所述像素阵列区域与所述N型离子环之间设置有P型离子环。
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