[实用新型]一种具有单层多晶的EEPROM有效

专利信息
申请号: 201420799496.9 申请日: 2014-12-16
公开(公告)号: CN204243039U 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 方钢锋 申请(专利权)人: 无锡来燕微电子有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;张涛
地址: 214028 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种EEPROM,尤其是一种具有单层多晶的EEPROM,属于半导体的技术领域。按照本实用新型提供的技术方案,所述具有多层单晶的EEPROM,包括半导体基板;在所述半导体基板内的上部设置若干用于数据存储的存储单元,所述存储单元包括控制电容、PMOS编程晶体管以及与所述PMOS编程晶体管串联的PMOS选择晶体管;控制电容通过半导体基板内的隔离介质与PMOS编程晶体管以及PMOS选择晶体管相隔离;本实用新型结构紧凑,降低加工成本以及工艺复杂度,操作方便,安全可靠。
搜索关键词: 一种 具有 单层 多晶 eeprom
【主权项】:
一种具有多层单晶的EEPROM,包括半导体基板(1);其特征是:在所述半导体基板(1)内的上部设置若干用于数据存储的存储单元,所述存储单元包括控制电容(30)、PMOS编程晶体管(40)以及与所述PMOS编程晶体管(40)串联的PMOS选择晶体管(50);控制电容(30)通过半导体基板(1)内的隔离介质(5)与PMOS编程晶体管(40)以及PMOS选择晶体管(50)相隔离;所述控制电容(30)包括位于半导体基板(1)内的P型阱区(4)以及位于所述P型阱区(4)上方的浮栅电极(9),所述浮栅电极(9)与第一P型阱区(4)间设置有浮栅氧化层(6),所述浮栅氧化层(6)以及浮栅电极(9)还部分覆盖P型阱区(4)内的第一P+区域(10);所述PMOS编程晶体管(40)以及PMOS选择晶体管(50)均位于半导体基板(1)内的N型阱区(3)内,所述N型阱区(3)通过隔离介质(5)与P型阱区(4)隔离;PMOS编程晶体管(40)包括位于N型阱区(3)上部的第二P+区域(11)以及第四P+区域(19);控制电容(30)上的浮栅电极(9)延伸至PMOS编程晶体管(40)上方并通过编程氧化层(18)部分覆盖在第二P+区域(11)以及第四P+区域(19)的上方;所述PMOS选择晶体管(50)包括位于N型阱区(3)上部的第二P+区域(11)以及第三P+区域(12),所述第二P+区域(11)以及第三P+区域(12)上方设置字线电极(8),所述字线电极(8)通过下方的选择氧化层(7)部分覆盖在第二P+区域(11)以及第三P+区域(12)上。
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