[实用新型]一种波长测试范围为660nm～850nm的光纤功率衰减测试仪有效
| 申请号： | 201420820534.4 | 申请日： | 2014-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN204272121U | 公开（公告）日： | 2015-04-15 |
| 发明（设计）人： | 姚美荣;顾善民;王巧建;张秀娟 | 申请（专利权）人： | 思源清能电气电子有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 韩松 |
| 地址： | 201108 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种波长测试范围为660nm～850nm的光纤功率衰减测试仪，包括Silicon光电探测器、光电转换器、跨阻放大器、数据存储器、MCU、电源管理器、键盘和LCD显示器，Silicon光电探测器的输出连接光电转换器后再连接跨阻放大器，MCU连接跨阻放大器、数据存储器、键盘、LCD显示器和电源管理器。所述的MCU是嵌入式Cortex M3核的ARM控制器。本实用新型实现波长660nm～850nm光纤功率衰减测试仪装置，为高压无功补偿装置(SVG)的控制单元与功率单元进行远距离通信而使用的光纤介质，提供一种检测方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波长 测试 范围 660 nm 850 光纤 功率 衰减 测试仪 | ||
【主权项】：
一种波长测试范围为660nm～850nm的光纤功率衰减测试仪，其特征在于，包括Silicon光电探测器、光电转换器、跨阻放大器、数据存储器、MCU、电源管理器、键盘和LCD显示器，Silicon光电探测器的输出连接光电转换器后再连接跨阻放大器，MCU连接跨阻放大器、数据存储器、键盘、LCD显示器和电源管理器。
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