[发明专利]半导体存储器装置有效

专利信息
申请号: 201480017098.X 申请日: 2014-03-11
公开(公告)号: CN105378851B 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 藤田胜之 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G11C11/15
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 李峥;刘薇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据一个实施例,半导体存储器装置包括:被连接到存储器单元阵列的第一字线;被连接到冗余区域的第二字线;被配置成基于行地址执行从第一字线中选择的第一行解码器;被配置成基于包括在行地址中的冗余地址来确定是否需要采用冗余区域的替代操作的判断电路;被配置成执行从第二字线中选择的第二行解码器;行地址包括以分时方法按顺序输入的第一行地址和第二行地址;第一行地址包括所有的冗余地址。
搜索关键词: 半导体 存储器 装置
【主权项】:
1.一种半导体存储器装置,包括:存储器单元阵列,其包括存储器单元;冗余区域,其包括用于所述存储器单元阵列中的故障单元的冗余单元;第一字线,其连接到所述存储器单元阵列;第二字线,其连接到所述冗余区域;第一行解码器,其被配置成基于行地址,执行从所述第一字线中选择;判断电路,其被配置成基于包括在所述行地址中的冗余地址,来确定是否需要采用所述冗余区域的替换操作;以及第二行解码器,其被配置成基于通过所述判断电路的确定结果,执行从第二字线中选择,其中,所述行地址包括从外部电路以分时方法按顺序输入的第一行地址和第二行地址,以及所述第一行地址包含所有的所述冗余地址。
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