[发明专利]测定方法有效
申请号: | 201480019313.X | 申请日: | 2014-03-25 |
公开(公告)号: | CN105264356B | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 神波诚治;近藤孝志;濑户弘一;三浦佳子 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | G01N21/3581 | 分类号: | G01N21/3581 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 李逸雪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种测定方法,对由混合物构成的检测体中包含的至少1种被测定物的有无或被测定物的量进行测定,包含第1捕捉工序,使用具有多个空隙部的第1空隙配置构造体,在所述第1空隙配置构造体对作为所述被测定物的1种的第1被测定物进行捕捉;第2捕捉工序,使用第2空隙配置构造体,对所述检测体中包含的夹杂物或者第2被测定物进行捕捉,所述第2空隙配置构造体具有多个空隙部,空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同;以及测定工序,在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后,向所述第1空隙配置构造体、或者所述第1空隙配置构造体及所述第2空隙配置构造体,照射电磁波,对进行了散射的电磁波的特性进行检测。 | ||
搜索关键词: | 测定 方法 | ||
【主权项】:
一种测定方法,对检测体中包含的特定的粒子状物质的量进行测定,其特征在于,所述检测体还包含所述特定的粒子状物质以外的粒子状的夹杂物,所述测定方法包含:第1捕捉工序,使用第1空隙配置构造体,对所述特定的粒子状物质进行捕捉,所述第1空隙配置构造体具有相互对置的一对主面,并且具有贯穿两个主面的多个空隙部;第2捕捉工序,使用第2空隙配置构造体,对所述粒子状的夹杂物进行捕捉,所述第2空隙配置构造体具有相互对置的一对主面,并且具有贯穿两个主面的多个空隙部,空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同;以及测定工序,在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后,向所述第1空隙配置构造体照射电磁波以使得与所述第1空隙配置构造体的主面交叉,对由所述第1空隙配置构造体进行了散射的电磁波的特性进行检测,所述第1捕捉工序在所述第2捕捉工序之后实施。
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