[发明专利]光电子器件和用于制造光电子器件的方法有效
申请号: | 201480020763.0 | 申请日: | 2014-03-24 |
公开(公告)号: | CN105122454B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 托比亚斯·迈耶;克里斯蒂安·莱雷尔;洛伦佐·齐尼;于尔根·奥弗;安德烈亚斯·莱夫勒;亚当·鲍尔 | 申请(专利权)人: | 欧司朗光电半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L33/02;H01L33/14;H01L33/00;H01L33/38 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 丁永凡,张春水 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种光电子器件(101),包括载体(103),在所述载体上施加有半导体层序列(105),所述半导体层序列包括n型掺杂的和p型掺杂的半导体层(107),使得形成pn结(111),所述pn结包括用于产生电磁辐射的有源区(113),其中n型掺杂的和p型掺杂的半导体层(107)的至少一个包括具有第一掺杂浓度的掺杂的区域,所述第一掺杂浓度大于包含该区域的半导体层中的该区域的周围中的第二掺杂浓度。本发明还涉及一种用于制造光电子器件(101)的相应的方法。 | ||
搜索关键词: | 光电子 器件 用于 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种光电子器件(101),包括:载体(103),在所述载体上施加有半导体层序列(105),所述半导体层序列包括n型掺杂的半导体层(109)和p型掺杂的半导体层(107),使得形成pn结(111),所述pn结包括用于产生电磁辐射的有源区(113),其中‑所述n型掺杂的半导体层(109)和所述p型掺杂的半导体层(107)中的至少一个包括具有第一掺杂浓度的掺杂的区域(117),所述第一掺杂浓度大于在包括所述区域(117)的所述半导体层中的所述区域(117)的周围中的第二掺杂浓度,‑掺杂的所述区域(117)与在掺杂的所述区域(117)的周围中在截止方向上的击穿电压相比分别具有在所述pn结的截止方向上的更小的击穿电压,‑掺杂的所述区域(117)彼此横向隔开地设置,‑在相邻的掺杂的所述区域(117)之间分别存在具有所述第二掺杂浓度的区域,并且‑所述区域(117)以伸展至所述pn结(111)并且接触所述pn结的方式形成,或者‑所述区域(117)以穿过所述pn结(111)伸展的且连接这两个掺杂的所述半导体层的方式形成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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