[发明专利]光电子器件以及用于制造光电子器件的方法有效
申请号: | 201480027681.9 | 申请日: | 2014-04-24 |
公开(公告)号: | CN105229805B | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | M.布勒尔;C.克莱姆普;W.施密德 | 申请(专利权)人: | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L33/36 | 分类号: | H01L33/36 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 卢江;刘春元 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 用于制造光电子器件的方法包括以下步骤:提供具有表面的半导体晶体;将具有电介质的第一层施加到表面上;在第一层上施加以及结构化光刻胶层,其中光刻胶层被结构化,使得光刻胶层具有开口;部分地溶解掉第一层,以便暴露表面的横向区域;在表面的横向区域中施加具有第一金属的接触面;移除光刻胶层;施加第二层,所述第二层具有光学透明的、导电的材料;以及施加具有第二金属的第三层。 | ||
搜索关键词: | 光电子 器件 以及 用于 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.用于制造光电子器件(10)的方法,具有以下步骤:‑ 提供具有表面(110)的半导体晶体(100);‑ 将具有电介质的第一层(200)施加到所述表面(110)上;‑ 在所述第一层(200)上施加以及结构化光刻胶层(300),其中所述光刻胶层(300)被结构化,使得所述光刻胶层具有开口(310);‑ 部分地溶解掉所述第一层( 200 ) ,以便暴露所述表面(110)的第一横向区域(121)和第二横向区域(122),其中在第三横向区域(111)中在所述表面(110)上布置所述第一层(200);‑ 在所述表面(110)的横向区域(120)中施加具有第一金属的接触面(410);‑ 在施加所述接触面(410)之后移除所述光刻胶层(300);‑ 在移除所述光刻胶层(300)之后将第二层(500)施加到所述接触面(410)、所述第一层(200)和所述表面(110)的第二横向区域(122)上,所述第二层( 500 ) 具有光学透明的、导电的材料;‑ 将具有第二金属的第三层(600)施加到所述第二层(500)上,其中在所述第二层(500)和所述半导体晶体(100)之间的比接触电阻比在所述接触面(410)和所述半导体晶体(100)之间的比接触电阻大至少一个数量级。
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