[发明专利]校正辅助装置、弯曲系统及校正方法有效

专利信息
申请号: 201480030509.9 申请日: 2014-05-15
公开(公告)号: CN105283115B 公开(公告)日: 2018-09-18
发明(设计)人: 佐藤宪 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: A61B1/00 分类号: A61B1/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种校正辅助装置,是在具备具有挠性的细长形状的可挠部(21)和设于上述可挠部且构成为检测上述可挠部的弯曲量的弯曲检测部(22)的弯曲系统中使用的、用来辅助弯曲检测部(22)的校正的装置。校正辅助装置具备校正器(30),该校正器(30)构成为:约束上述可挠部向沿着与上述可挠部的长轴垂直的第1轴的两个方向的变形及移动,并且,约束上述可挠部向沿着与上述长轴及上述第1轴垂直的第2轴的至少一个方向的变形及移动。
搜索关键词: 校正 辅助 装置 弯曲 系统 方法
【主权项】:
1.一种校正辅助装置,在弯曲系统中使用,该弯曲系统具备具有挠性的细长形状的可挠部和设于上述可挠部且构成为检测上述可挠部的弯曲量的弯曲检测部,上述校正辅助装置用来辅助上述弯曲检测部的校正,其特征在于,具备:校正器,具备约束部,该约束部被设为贯通孔或槽并且通过以使该约束部的长轴与上述可挠部的长轴一致的方式使上述可挠部插通而约束该可挠部;以及位置确定部件,用来确定上述弯曲检测部相对于上述校正器的位置;上述约束部的内径比上述可挠部的外径稍大,上述约束部的长度比上述可挠部短,上述约束部约束上述可挠部向沿着与上述可挠部的长轴垂直的第1轴的两个方向的变形及移动,并且,约束上述可挠部向沿着与上述长轴及上述第1轴垂直的第2轴的至少一个方向的变形及移动。
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