[发明专利]用于测试电子器件的探针卡组件有效
| 申请号： | 201480038556.8 | 申请日： | 2014-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN105531593B | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 范立;达西·凯利-格林;爱德华·米洛维克;穆卡什·塞尔瓦拉;吉姆·张;长井源作 | 申请（专利权）人： | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人： | 脱颖 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种探针卡组件，可包括导向板，所述导向板包括用于将探针固定在预定位置的探针导向件。所述探针卡组件还可包括附接在导向板上的接线结构，使探针的连接尖端与接线结构上的触头相抵比并附接在其上。所述导向板在接线结构上的附接可使接线结构以大于导向板的比率膨胀或收缩。所述探针可包括柔性元件，所述柔性元件可远离接触尖端，可在大电流和热应力下失效。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子器件 探针 组件 | ||
【主权项】：
1.一种接触探针，包括：单体结构元件，所述单体结构元件包括挠曲部分和柔性连接部分；在所述挠曲部分的近端处的接触尖端，所述接触尖端设置成接触设置在所述接触尖端的平面内的第一电子器件；以及在所述柔性连接部分的远端处的连接尖端，所述连接尖端设置成接触探针卡组件的接线结构，所述接线结构设置在与所述接触尖端的所述平面基本平行的所述连接尖端的平面内；所述挠曲部分和所述柔性连接部分是从所述接触尖端到所述连接尖端的导电路径的一些部分。
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