[发明专利]粒子分析装置和粒子分析方法

摘要

提供一种粒子分析装置和一种粒子分析方法，其能够获得具有高可靠性的检测数据，而不执行高频叠加。一种粒子分析装置被配置成包括：光照射单元，所述光照射单元用激光照射在流径内流动的粒子；光检测单元，所述光检测单元检测荧光或散射光或者荧光和散射光两者，从用激光照射的粒子发出荧光和散射光；以及信号处理单元，所述信号处理单元处理荧光或散射光的检测信号或者荧光和散射光两者的检测信号，从光检测单元输出荧光和散射光，光照射单元包括至少：光源，所述光源产生激光；以及激光检测器，所述激光检测器检测从光源发出的激光的一部分，该信号处理单元基于激光检测器中的检测结果来校正荧光或散射光的检测信号或者荧光和散射光两者的检测信号。

主权项

一种粒子分析装置，包括：光照射单元，所述光照射单元用激光照射在流径内流动的粒子；光检测单元，所述光检测单元检测荧光或散射光或者所述荧光和所述散射光两者，从用所述激光照射的所述粒子发出所述荧光和所述散射光；以及信号处理单元，所述信号处理单元处理所述荧光或所述散射光的检测信号或者所述荧光和所述散射光两者的检测信号，从所述光检测单元输出所述荧光和所述散射光，所述光照射单元至少包括：光源，所述光源产生激光，以及激光检测器，所述激光检测器检测从所述光源发出的激光的一部分，所述信号处理单元基于所述激光检测器中的检测结果来校正所述荧光或所述散射光的所述检测信号或者所述荧光和所述散射光两者的所述检测信号。