[发明专利]用于3D多尺度显微术的具有集成微镜的微构造表面在审

专利信息
申请号: 201480047452.3 申请日: 2014-08-27
公开(公告)号: CN105556280A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 维尔日勒·尼古拉斯·罗伯特·维亚诺夫;文森特·斯蒂德;詹卢卡·格伦奇;雷米·加朗;让-巴蒂斯特·西巴里塔 申请(专利权)人: 新加坡国立大学;国家科学研究中心
主分类号: G01N21/03 分类号: G01N21/03;G02B21/06;B01L3/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 蔡胜有;郑毅
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要: 一种用于对样品或样品的子组分进行横向照明的样品保持装置,包括:支撑基底,该支撑基底包括适于容纳所述样品并且与所述样品匹配的样品孔,其中,所述孔被设置在具有与所述样品孔相邻的成角度反射表面的至少一个壁上,成角度反射表面在使用时引导来自光源的横向光束通过所述样品孔中所容纳的样品,以对所述样品孔中所容纳的样品提供基本横向照明并且使用单个物镜对所述样品进行成像。
搜索关键词: 用于 尺度 显微 具有 集成 构造 表面
【主权项】:
一种用于对样品或样品的子组分进行横向照明的样品保持装置,包括:支撑基底,所述支撑基底包括适于容纳所述样品并且与所述样品匹配的样品孔,其中,所述孔设置在具有与所述样品孔相邻的成角度反射表面的至少一个壁上,所述成角度反射表面在使用时引导来自光源的横向光束通过所述样品孔中所容纳的样品,以向所述样品孔中容纳的样品提供基本横向的照明,以及使用单个物镜对所述样品进行成像。
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