[发明专利]超声波探头、超声波处理器具及处理系统在审
申请号: | 201480053226.6 | 申请日: | 2014-09-25 |
公开(公告)号: | CN105578977A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 谷内千恵;石川学;植田莊平 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | A61B18/00 | 分类号: | A61B18/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 设于处理部的暴露面的接触部利用传递来的超声波振动,一边从与处理对象相接触的状态向侵入方向侵入,一边对所述处理对象进行处理。在所述处理部的所述暴露面上,在比接触部靠侵入方向相反侧的位置设有标识部。所述标识部成为表示接触部相对于处理对象向所述侵入方向侵入的侵入量的标识。所述标识部具有在所述侵入方向上排列设置的多个标识面,所述标识面相对于相邻的所述标识面分别使相对于所述侵入方向的角度不同。 | ||
搜索关键词: | 超声波 探头 处理 器具 系统 | ||
【主权项】:
一种超声波探头,其中,该超声波探头包括:探头主体,其沿着长度轴线延伸设置,并从基端方向向顶端方向传递超声波振动;以及处理部,其设于所述探头主体的所述顶端方向侧,并使用经由所述探头主体传递来的超声波振动进行处理对象的处理,该处理部包括:暴露表面,其暴露于外部;接触部,其设于所述暴露表面,利用传递来的所述超声波振动,一边从与所述处理对象相接触的状态向朝向所述处理对象的内部的侵入方向侵入,一边对所述处理对象进行处理;以及标识部,其在所述暴露表面上设置在比所述接触部靠与所述侵入方向相反的方向侧的位置,并且成为表示所述接触部相对于所述处理对象向所述侵入方向侵入的侵入量的标识,该标识部具有在所述侵入方向上排列设置的多个标识面,所述标识面相对于相邻的所述标识面分别使相对于所述侵入方向的角度不同。
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