[发明专利]基材与DLC膜之间形成的中间层的形成方法、DLC膜形成方法、以及基材与DLC膜之间形成的中间层有效

专利信息
申请号: 201480060930.4 申请日: 2014-11-06
公开(公告)号: CN105705675B 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 渡边元浩;松冈宏之;榊原渉;野上惣一郎 申请(专利权)人: 同和热处理技术株式会社
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C14/06;C23C14/14;C23C16/27;C23C16/50
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇,李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种中间层形成方法,其为通过PVD法来形成中间层的中间层形成方法,所述中间层形成在基材与DLC膜之间,其具有在基材上形成Ti层的Ti层成膜工序、和在Ti层上形成TiC层的TiC层成膜工序,Ti层成膜工序中,向装载基材的腔室内供给Ar气体,以成膜压力为0.4Pa以上且1Pa以下的范围内的压力形成Ti层,TiC层成膜工序中,向前述腔室内供给Ar气体和CH4气体,以成膜压力为0.2Pa以上且不足0.4Pa的范围内的压力,对基材施加偏置电压比Ti层成膜工序中施加于基材的第一偏置电压高、且偏置电压高于‑100V的第二偏置电压,从而形成TiC层。
搜索关键词: 基材 dlc 之间 形成 中间层 方法 以及
【主权项】:
一种中间层形成方法,其为通过PVD法来形成中间层的中间层形成方法,所述中间层形成在基材与DLC膜之间,其具有:在基材上形成Ti层的Ti层成膜工序、和在所述Ti层上形成TiC层的TiC层成膜工序,所述Ti层成膜工序中,向装载基材的腔室内供给Ar气体,以成膜压力为0.4Pa以上且1Pa以下的范围内的压力形成所述Ti层,所述TiC层成膜工序中,向所述腔室内供给Ar气体和CH4气体,以成膜压力为0.2Pa以上且不足0.4Pa的范围内的压力,对基材施加偏置电压比所述Ti层成膜工序中施加于基材的第一偏置电压高、且偏置电压高于‑100V的第二偏置电压,从而形成所述TiC层。
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