[发明专利]前加载样品制备设备及其方法

摘要

公开了一种样品制备设备(6B)，其被配置成用于制备适用于X光衍射的材料样品(900’)。该设备(6B)包括碟形样品保持器底部(500)，其被配置成配合在环形样品保持器(400)内。该碟形样品保持器底部(500)具有凹进碟形表面(501)，其适于在按压力下分布样品材料(900)。还公开了制备适用于X光衍射的材料样品(900’)的方法。该方法包括将样品材料(900)计量分配至配置成配合在环形样品保持器(400)中的碟形样品保持器底部(500)，其中该碟形样品保持器底部(500)优选地具有凹进的碟形表面(501)，其适用于在按压力下分布样品材料(900)。还公开了一种新的平整装置设计工具(图12)。该平整工具通过穿过样品的核心且提供随机的样品晶粒取向，同时在样品保持器底部均匀地分布材料而最小化表面接触效果。该样品材料(900)被轻按压，且样品材料(900)通过凹进碟形表面(501)的作用而在碟形样品保持器底部(500)内分布。

主权项

1.一种被配置成制备适用于X光衍射的材料样品(900’)的样品制备设备(6B)，包括：碟形样品保持器底部(500)，其被配置成配合在环形样品保持器(400)内，所述碟形样品保持器底部(500)具有凹进的碟形表面(501)，该碟形表面被配置成在按压力下对样品材料(900)进行分布；环形样品保持器(400)；其中所述碟形样品保持器底部(500)被设置在所述环形样品保持器(400)内，且被配置成以活塞的方式在所述环形样品保持器(400)内移动；其中所述碟形样品保持器底部(500)还包括密封环(510)，所述密封环(510)设置在所述环形样品保持器(400)的内表面(401)与所述碟形样品保持器底部(500)的外表面(505)之间。