[发明专利]用于光学相干断层扫描的光学探头及制作光学探头的方法在审

专利信息
申请号: 201480062935.0 申请日: 2014-10-24
公开(公告)号: CN105744896A 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 村岛清孝;平野充遥 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: A61B10/00 分类号: A61B10/00;A61B1/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 顾红霞;何胜勇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了:一种OCT光学探头,其能够减少在光纤与透镜光纤之间的边界区域处产生的反射光;以及一种制作OCT光学探头的方法。OCT光学探头(10A)设置有:光纤(22),其用于传输照射光和反射散射光;以及透镜光纤(11),其被熔接至光纤(22)的端面(22d),并且用于准直照射光并将照射光发射到活体中,以及用于收集反射散射光并将反射散射光引导至光纤(22)的端面(22d)。折射率调节材料被添加至透镜光纤(11),并且所述折射率调节材料扩散到光纤(22)的端部(22B)中。
搜索关键词: 用于 光学 相干 断层 扫描 探头 制作 方法
【主权项】:
一种用于光学相干断层扫描的光学探头,包括:光纤,其传输照射光和反射散射光;以及透镜光纤,其与所述光纤的一端熔接在一起,所述透镜光纤在准直所述照射光的同时朝向待测量对象发射所述照射光,并将来自所述待测量对象的反射散射光收集且引导至所述光纤的所述一端,其中,用于调节折射率的材料被添加至所述透镜光纤,并且所述材料在所述光纤的包括所述一端的端部中扩散。
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