[发明专利]光学特性的测定用设备在审
| 申请号： | 201480063352.X | 申请日： | 2014-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN105723199A | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 小林茂 | 申请（专利权）人： | 泰科电子日本合同会社 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 何欣亭;姜甜 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供无需使用非常长的光纤而能够再现性良好地得到插入损耗的测定结果的光纤部件的测定设备。具备：出射测定光（DL）的光源（3）；测定光（DL）从一端侧入射的光纤（7）；以及与光纤（7）的另一端侧连接的装接连接器（9）。向光纤（7）入射能得到与光纤（7）的稳态模激励造成的插入损耗（Lα）对应的插入损耗（Lβ）的数值孔径（NAβ）的测定光（DL）。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 特性 测定 设备 | ||
【主权项】：
一种光学特性的测定用设备，其特征在于，具备：光源，出射测定光；光纤，具备一端侧和另一端侧，所述测定光从所述一端侧入射；以及出射端，与所述光纤的所述另一端侧连接，出射所述测定光，对所述光纤入射能得到与所述光纤的稳态模激励造成的插入损耗Lα对应的插入损耗Lβ的数值孔径NAβ的所述测定光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰科电子日本合同会社，未经泰科电子日本合同会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480063352.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：落重弯沉仪
- 下一篇：显微镜以及用于显微镜的声光合束器
