[发明专利]具有隔层的有机x射线检测器有效

专利信息
申请号: 201480063747.X 申请日: 2014-09-08
公开(公告)号: CN105723245B 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: K.H.安;A.J.库图尔;G.帕萨萨拉蒂;赵日安;J.J.刘 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;H01L27/30
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘林华;谭祐祥
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了一种有机x射线检测器和制作有机x射线检测器的方法。x射线检测器包括设置在基底上的TFT阵列、设置在TFT阵列上的有机光电二极管层、设置在光电二极管层上的隔层,以及设置在隔层上的闪烁体层,使得隔层包括至少一种无机材料。
搜索关键词: 具有 隔层 有机 射线 检测器
【主权项】:
1.一种有机x射线检测器,包括:设置在基底上的TFT阵列;设置在所述TFT阵列上的有机光电二极管层;设置在所述TFT阵列与所述有机光电二极管层之间的第一电极;设置在所述光电二极管层上的隔层,所述隔层包括至少一种无机材料;夹在所述隔层与所述光电二极管层之间的平面化层,所述平面化层包含聚碳酸酯,环氧聚合物或丙烯酸基材料;设置在所述光电二极管层与所述平面化层之间的第二电极,所述第二电极进一步设置在光电二极管的边缘部分上;以及设置在所述隔层上的闪烁体层。
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