[发明专利]基于概率信息检测半导体存储器的被最频繁存取的地址的方法有效
| 申请号： | 201480083360.0 | 申请日： | 2014-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN107077883B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 赵相衍 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C11/408 | 分类号： | G11C11/408 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 张帆;张青 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种管理半导体存储器的方法，所述方法包括如下步骤：根据采样时间段，从对于存储器单元阵列的存取流对行地址进行采样；基于概率信息，确定采样的行地址是否是与被最频繁存取的目标行对应的地址；对与目标行相邻的行执行刷新操作。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 概率 信息 检测 半导体 存储器 频繁 存取 地址 方法 | ||
【主权项】：
PCT国内申请，权利要求书已公开。
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