[其他]检测用构造体有效

专利信息
申请号: 201490000517.4 申请日: 2014-02-07
公开(公告)号: CN205175893U 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 神波诚治;近藤孝志 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/3581
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 韩聪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 实用新型提供一种强度高、不会招致制造工序变得繁杂、可降低成本的检测用构造体。检测用构造体(1)是在检测照射电磁波的情况下的因有无保持被测定物所引起的谐振特性的变化来检测被测定物的方法中所利用的检测用构造体,其具备:基底部(1A),其具有第1主面(1a)以及第2主面(1b);和周期性构造体部(1B),其被设置在所述基底部(1A)的第1主面(1a),周期性构造体部(1B)具有周期性配置的单位构造(13),该单位构造(13)具有在厚度方向或者相对于厚度方向而斜向地交叉的方向上延伸的厚度方向面(3~6)。
搜索关键词: 检测 构造
【主权项】:
一种检测用构造体,是在检测照射电磁波的情况下的因有无保持被测定物所引起的谐振特性的变化来检测被测定物的方法中所利用的检测用构造体,所述检测用构造体的特征在于,具备:板状的基底部,其具有在厚度方向上对置的第1主面以及第2主面;和周期性构造体部,其设置在所述基底部的第1主面,所述周期性构造体部具有在所述基底部的第1主面的面方向上周期性地配置的单位构造,该单位构造具有在所述厚度方向上或者在相对于该厚度方向而斜向地交叉的方向上延伸的厚度方向面。
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