[发明专利]磁控溅射镀膜设备及ITO玻璃的制备方法有效
申请号: | 201510014624.3 | 申请日: | 2015-01-12 |
公开(公告)号: | CN104611676B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 刘玉华;方凤军 | 申请(专利权)人: | 宜昌南玻显示器件有限公司 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C03C17/245 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 443000*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种磁控溅射镀膜设备,包括依次相连的镀膜腔室、过渡室、缓冲室、出口锁定室、出口室和骤冷室;所述镀膜腔室的设置温度为380℃~600℃,所述骤冷室的设置温度为5℃~15℃,所述骤冷室的长度为0.5m~3.0m。这种磁控溅射镀膜设备,通过控制镀完ITO膜的ITO玻璃从温度较高的镀膜腔室依次通过过渡室、缓冲室、出口锁定室和出口室后,通过温度很低的骤冷室,使得镀ITO膜的玻璃基板的温度快速降低至50℃以下,通过骤冷的方式提升ITO膜层的硬度,制得ITO膜层硬度更高的ITO玻璃。本发明还公开了一种采用上述磁控溅射镀膜设备的ITO玻璃的制备方法。 | ||
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【主权项】:
一种磁控溅射镀膜设备,其特征在于,包括依次相连的镀膜腔室、过渡室、缓冲室、出口锁定室、出口室和骤冷室;所述镀膜腔室的设置温度为380℃~600℃,所述骤冷室的设置温度为5℃~15℃,所述骤冷室的长度为0.5m~3.0m;所述镀膜腔室、所述过渡室、所述缓冲室、所述出口锁定室和所述出口室呈直线式排列。
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