[发明专利]抗闩锁效应微处理器复位电路在审
| 申请号： | 201510019748.0 | 申请日： | 2015-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN104503559A | 公开（公告）日： | 2015-04-08 |
| 发明（设计）人： | 侯立功;刘全胜;陈天娥;吴伟;肖颖;侯正昌;陆秋俊;王欣 | 申请（专利权）人： | 无锡职业技术学院 |
| 主分类号： | G06F1/24 | 分类号： | G06F1/24 |
| 代理公司： | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人： | 奚胜元;奚晓宁 |
| 地址： | 214121 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明抗闩锁效应微处理器复位电路涉及电子技术应用领域，具体为一种复位电路，能够有效避免复位信号对微处理器带来的闩锁触发风险。包括一阶复位电路、掉电检测电路和泄流通道，掉电检测电路和一阶复位电路之间通过光耦连接；所述一阶复位电路由电阻和第一电容串接组成；掉电检测电路由二极管、第二电容和光耦内部的发光二极管组成，二极管的阳极以及发光二极管的阴极分别与电源相连，第二电容的正极、二极管的阴极分别与发光二极管的阳极相连，第二电容的负极接地；泄流通道由光耦内部的光敏三极管和一阶复位电路中的元件组成；所述元件为第一电容或电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 抗闩锁 效应 微处理器 复位 电路 | ||
【主权项】：
一种抗闩锁效应微处理器复位电路，其特征在于：包括一阶复位电路、掉电检测电路和泄流通道，掉电检测电路和一阶复位电路之间通过光耦连接；所述一阶复位电路由电阻和第一电容串接组成；掉电检测电路由二极管、第二电容和光耦内部的发光二极管组成，二极管的阳极以及发光二极管的阴极分别与电源相连，第二电容的正极、二极管的阴极分别与发光二极管的阳极相连，第二电容的负极接地；泄流通道由光耦内部的光敏三极管和一阶复位电路中的元件组成；所述元件为第一电容或电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡职业技术学院，未经无锡职业技术学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510019748.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：信息处理方法及电子设备
- 下一篇：一种嵌入式设备的复位方法及嵌入式设备
