[发明专利]有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法

摘要

本发明公开了一种有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法，涉及电磁干扰测试方法技术领域。该实验方法包括以下步骤：按照电场强度由低到高将有界波模拟器的内部分为若干个区域，分别为测试一区、测试二区…依次类推；将测试一区作为起始测试区域，使电子设备与地面平行或与地面呈一定夹角，控制有界波模拟器以一定电场强度辐照若干次，通过示波器记录每次的辐照波形和电磁环境效应现象，按照电场强度由低到高改变被测试电子设备所在的测试区域，直到电子设备出现电磁环境效应为止。该实验方法确保了电子设备系统级电磁环境效应测试的规范性和合理性，提高了电子设备电磁环境效应测试的准确性。

主权项

一种有界波环境下电子设备电磁环境效应实验方法，其特征在于所述实验方法包括以下步骤：（1）将被测试的电子设备放置在有界波模拟器内，示波器放置在有界波模拟器外，示波器通过同轴电缆与被测试电子设备的信号输出端连接；（2）按照电磁强度由低到高将有界波模拟器的内部分为若干个区域，分别为测试一区、测试二区、测试三区…依次类推；（3）首先将被测试的电子设备放置在测试一区内，将测试一区作为起始测试区域，使其与地面平行，控制有界波模拟器以一定电场强度辐照若干次，通过示波器记录每次的辐照波形和电磁环境效应现象，按照电磁强度由低到高改变被测试电子设备所在的测试区域，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应则进入步骤（4）；（4）将测试一区作为起始测试区域，改变电子设备与地面水平夹角，控制有界波模拟器以一定电场强度辐照若干次，通过示波器记录每次的辐照波形和电磁环境效应现象，按照电磁强度由低到高改变被测试电子设备所在的测试区域，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应，则进入步骤（5）；（5）将测试二区作为起始测试区域，重复步骤（3）和步骤（4）中的测试步骤，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应，则进入步骤（6）；（6）将测试三区作为起始测试区域，重复步骤（3）和步骤（4）中的测试步骤，直到电子设备出现电磁环境效应为止，如无电磁环境效应，则进入步骤（7）；（7）依次类推，将测试n区作为起始测试区域，重复步骤（3）和步骤（4）中的测试步骤，直到电子设备出现电磁环境效应为止，n为大于3的自然数。