[发明专利]一种基于二阶微分的修正L曲线电学层析成像重建方法有效
| 申请号： | 201510022756.0 | 申请日： | 2015-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN104535294B | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 许燕斌;裴仰;董峰 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01M10/00 | 分类号： | G01M10/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人： | 程毓英 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于二阶微分的修正L曲线电学层析成像重建方法，适用于泡状流层析成像，包括根据被测场域，获取重建所需的相对边界测量值向量b和灵敏度矩阵A；利用Tikhonov正则化，计算并绘制L‑曲线；判断L‑曲线是否存在局部拐点；若不存在局部拐点，则通过L‑曲线法确定优化选取的正则化系数；若存在局部拐点，通过修正的L‑曲线法确定优化选取的正则化系数，方法为通过计算L‑曲线二阶微分的第二大峰值确定曲线的局部拐点，并将此局部拐点对应的正则化系数作为优化选取的系数；将正则化系数代入Tikhonov正则化中进行图像重建逆问题求解；成像。本发明有利于电学层析成像逆问题的精确求解，提高了图像重建质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 微分 修正 曲线 电学 层析 成像 重建 方法 | ||
【主权项】：
一种基于二阶微分的修正L曲线电学层析成像重建方法，适用于泡状流层析成像，该方法将电学层析成像问题看作一个线性不适定问题Ax＝b，其中，A为灵敏度矩阵，b为相对边界测量值向量，x为所求成像灰度值，包含有以下步骤：(1)根据被测场域，获取重建所需的相对边界测量值向量b和灵敏度矩阵A；(2)利用Tikhonov正则化，计算并绘制L‑曲线；(3)判断L‑曲线是否存在局部拐点；(4)若不存在局部拐点，则通过L‑曲线法确定优化选取的正则化系数；若存在局部拐点，通过修正的L‑曲线法确定优化选取的正则化系数，方法为：通过计算L‑曲线二阶微分的第二大峰值确定曲线的局部拐点，并将此局部拐点对应的正则化系数作为优化选取的正则化系数；(5)将优化选取的正则化系数代入Tikhonov正则化中进行图像重建逆问题求解；(6)根据求解所得灰度值进行成像。
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