[发明专利]一种正常工作模式下芯片调试方法及调试电路

摘要

本发明公开了一种正常工作模式下芯片调试方法，是在芯片引脚功能定义时，采用引脚复用技术，将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号做复用后输出到芯片引脚上，即通过多路选择器控制引脚当前的输出信号，从而在正常工作调测模式时可以控制多路选择器将内部信号作为输出值输出到引脚上。本发明还公开了一种正常工作模式下芯片调试电路，本发明能够使芯片在正常工作模式下开启调测功能，在芯片正常工作时能够获得预定测试的组合逻辑电路（端口或内部）的信号状态，定位故障，确认问题。

主权项

一种正常工作模式下芯片调试方法，其特征在于：在芯片设计时采用引脚复用技术，将芯片正常功能输出信号与需要引出的内部信号做复用后输出到芯片引脚上；在芯片后端设计插入扫描链时，将预定测试的组合逻辑电路正常功能输出信号与需要引出的内部信号引出，并与前一组合逻辑电路寄存器的输出信号分别通过多路选择器输送至下一组合逻辑电路的输入端；将正常工作调测模式使能信号经反相器取反后与普通调测使能信号作与运算，将这一结果作为扫描链的选择信号，控制多路选择器的输出信号。