[发明专利]一种III族半导体发光器件的制作方法有效

专利信息
申请号: 201510027679.8 申请日: 2015-01-20
公开(公告)号: CN104576868B 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 许顺成 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/24 分类号: H01L33/24;H01L33/14;H01L33/00
代理公司: 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11603 代理人: 于淼
地址: 423038 湖南省郴*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 本申请公开了一种III族半导体发光器件的制作方法,包括衬底、缓冲层、n型氮化物半导体层、有源层和p型氮化物半导体层自下而上依次生长形成外延结构;沉积电流阻挡层在p型氮化物半导体层上,利用黄光蚀刻制程定义所述电流阻挡层图案;沉积透明导电层在p型氮化物半导体层及电流阻挡层上;利用黄光蚀刻制程定义凸台图案,得到凸台;沉积绝缘层;黄光剥离制程定义P型电极和N型电极图案,同时沉积P型电极、N型电极,后利用剥离制程去除光阻,制成圆片;最后将所述圆片进行减薄、划片、裂片、测试、分选。本发明还原了N型焊盘下方的有源层,解决有源层蚀刻过多的问题,改善光电特性,发光面积变大,操作电压下降,亮度上升。
搜索关键词: 一种 iii 半导体 发光 器件 制作方法
【主权项】:
一种III族半导体发光器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:衬底、缓冲层、n型氮化物半导体层、有源层和p型氮化物半导体层自下而上依次生长形成外延结构,所述外延结构的上表面为所述p型氮化物半导体层的上表面;沉积电流阻挡层在所述p型氮化物半导体层上,并利用黄光蚀刻制程定义所述电流阻挡层图案,再蚀刻电流阻挡层、后去除光阻,得到电流阻挡层;沉积透明导电层在所述p型氮化物半导体层及电流阻挡层上,并利用黄光蚀刻制程定义所述透明导电层图案,再蚀刻透明导电层、最后去除光阻,得到透明导电层;利用黄光蚀刻制程定义凸台图案,再蚀刻p型氮化物半导体层和有源层,而暴露n型氮化物半导体层,最后去除光阻,得到凸台,且凸台的上表面有电流阻挡层及透明导电层;沉积绝缘层在透明导电层的上表面及所述凸台的表面上,利用黄光蚀刻制程定义要参于电流分布的图案,再蚀刻绝缘层,最后去除光阻;黄光剥离制程定义P型电极和N型电极图案,同时沉积P型电极、N型电极,后利用剥离制程,再去除光阻,制成圆片,其中,所述N型电极包括:N型线电极与N型焊盘,所述N型线电极下方的有源层被蚀刻掉或所述N型线电极下方的有源层被部分蚀刻掉,所述N型焊盘沉积于所述绝缘层上、所述N型线电极沉积于所述n型氮化物半导体层上;所述N型焊盘沉积于所述绝缘层上、所述N型线电极沉积于所述绝缘层上;所述N型焊盘沉积于所述绝缘层上、所述N型线电极沉积于所述n型氮化物半导体层及绝缘层之间;所述N型焊盘沉积在所述有源层的上方,所述P型电极包括:P型焊盘与P型线电极,所述P型电极沉积在所述凸台上,所述N型焊盘与所述P型焊盘之间的高度差低于或等于300nm;最后将所述圆片进行减薄、划片、裂片、测试、分选。
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