[发明专利]测试分选机

摘要

本发明涉及一种测试分选机，其使用于对生产出的半导体元件进行测试。根据本发明的测试分选机具有保护部件，当开放器的上升引起配备于测试托盘的插入件的闩锁件的操作，从而使借助于拾放装置的半导体元件的供应或回收作业进行时，该保护部件保护支撑部件而使其免受由拾放装置施加于插入件的支撑部件的影响。因此，具有可防止支撑部件的损坏的技术效果。

主权项

一种测试分选机，其特征在于，包括：测试托盘，配备有多个插入件，所述插入件具有用于保持安置的半导体元件的闩锁件；拾放装置，将半导体元件供应给所述测试托盘的插入件，或者从所述测试托盘的插入件回收半导体元件，其中供应给测试托盘的插入件的半导体元件为测试之前的半导体元件，而从测试托盘的插入件回收的半导体元件为测试之后的半导体元件；开放器，通过操作所述闩锁件而使所述拾放装置的作业能够进行，以实现半导体元件的供应或回收，所述插入件包括：主体，形成有能够使供应过来的半导体元件插入的插孔；薄膜形态的支撑部件，结合于所述主体，并在所述插孔的下面支撑插入到所述插孔中的半导体元件，且形成有与半导体元件的端子的位置对应的连接孔，以使半导体元件的端子能够电连接于测试机侧；所述闩锁件，保持被所述支撑部件所支撑的半导体元件，所述开放器包括：开放盘，位于所述测试托盘的下方，并具有用于操作所述闩锁件的操作销；驱动源，用于使所述开放盘升降，以使所述操作销操纵所述闩锁件而使半导体元件能够供应到所述插入件或从所述插入件得到回收，或者是解除所述闩锁件的操作状态；保护部件，在所述拾放装置进行作业时保护所述支撑部件以免受到施加于所述支撑部件的加压力的影响。